이현호 교수(전자공학과) 연구팀 석사과정 최한솔 학생,

제24회 국제정보디스플레이 학술대회(IMID 2024) ‘Best Poster Paper Award’ 수상

- ‘정전기 방전에 의한 양자점 발광다이오드의 소자와 구동 시스템에 미치는 손상 분석‘ 논문 발표-

본교 이현호 교수(전자공학과)　연구팀 석사과정 최한솔 학생은 지난 2024년 8월 22(목)~25일(일) 제주국제컨벤션센터(ICC)에서 열린 ‘제24회 국제정보디스플레이 학술대회(IMID 2024)’에서 ‘정전기 방전에 의한 양자점 발광다이오드의 소자와 구동 시스템에 미치는 손상 분석’ 논문을 발표해 ‘Best Poster Paper Award’을 수상했다.

＜최한솔 석사과정과 이현호 교수＞

정보디스플레이학회(SID)와 한국정보디스플레이학회(KIDS)가 공동으로 주관하는 IMID는 2001년부터 매년 개최되어 정보 디스플레이 분야의 최신 지식을 공유하는 세계 3대 정보 디스플레이 국제 학대 중 하나이다. 이번 IMID 2024에서는 전 세계 18개국에서 2,300여명이 참가하였으며, 950여 개의 발표가 이뤄졌다. 석사과정 최한솔 학생은 서울과학기술대학교 송형준 교수(안전공학과) 연구팀과의 공동 연구 결과에 대하여 ‘정전기 방전에 의한 양자점 발광다이오드의 소자와 구동 시스템에 미치는 손상 분석(Analysis of Electrostatic Discharge (ESD) Damage in Quantum Dot Light-Emitting Diodes: From Pixel to System Level)’이란 주제로 포스터를 발표하여 ‘Best Poster Paper Award’를 수상했다.

높은 색순도, 저렴한 공정 비용을 기반으로 연구되고 있는 양자점을 이용한 양자점 발광 다이오드는 차세대 디스플레이 소자로 주목받고 있다. 양자점 발광다이오드의 효과적인 공정 방법으로 잉크젯 프린팅(Inkjet printing)이 대두되고 있다. 하지만 안정적인 디스플레이 제품 생산을 위해 제조 공정에서 발생할 수 있는 고전압에 의한 손상에 대한 분석이 부족한 상황이다.

잉크젯 프린팅 공정 과정은 롤투롤(Roll-to-roll), 잉크젯 헤드, 박막 탈착에서 발생하는 고전압은 양자점 발광다이오드의 손상을 초래할 수 있다. 정전기 방전을 통해 양자점 발광다이오드 소자에 고전압을 인가하여 전기 특성을 분석하여 누설 전류와 임피던스의 증가와 휘도 감소를 확인하였고, 광학 분석을 이용하여 고전압에서 발생하는 발광면 손상을 확인하였다.

소자 내 양극이 혼합되거나 탈락되는 현상으로 정전기 방전에 의한 양자점 발광 다이오드의 손상 메커니즘을 규명했으며, 매트릭스(Matrix)로 구성한 양자점 발광다이오드 패널에 속한 한 소자에 고전압이 인가되면 해당 소자와 전극을 공통으로 이용하는 다른 소자에도 동일한 손상 메커니즘이 발생한다는 것을 밝혔다.

한편, 이번 연구는　대학중점연구소 및 기본연구（2018R1A6A1A03025242, 2022R1F1A1066526）의　지원을　받아　수행되었다.

 ＜(좌부터) 정전기 방전 전압 증가에 따른 양자점 발광다이오드의 전류밀도-전압 특성 곡선, 전압 증가에 따른 발광면 감소, 손상된 양자점 발광다이오드의 에너지분산 분광(EDS) 분석 결과＞